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探针卡Probe Card

探针卡是公司的主要产品,可以适用于半导体CP测试,FPD测试

  • Nand Flash 300mm 用 MEMS探针卡
    此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash 300mm 测试
    ¥ 0.00

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  • 移动DRAM用 MEMS探针卡
    此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash测试
    ¥ 0.00

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  • DDI/LDI 探针卡
    本探针卡适用于LCD Drive IC,以及Display Drive IC test
    ¥ 0.00

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  • WAT(晶圆接受测试)探针卡
    用于晶圆接受测试,WAT(wafer acceptance test),low leakage test.
    ¥ 0.00

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  • 非储存类芯片悬臂式探针卡Non Memory Cantilever Porbe Card
    用于非储存类芯片测试,悬臂式探针卡需结合设备使用,耐用,质量高,可靠性强。
    ¥ 0.00

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  • 垂直式 LSI 40 探针卡
    可适用于LSI系统,(SOC Flip Chip). CIS, Bump pad. 储存体(Memory Devices), Fine pitch LDI等。
    ¥ 0.00

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版权所有:武汉迈斯卡德微电子科技有限公司             鄂ICP备:17026650号-1  

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