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联合韩国、日本、中国台湾团队,武汉迈斯卡德微电子科技有限公司于2017年7月在湖北省自贸区武汉片区未来科技城成立,结合上游供应链的良好合作关系以及自有的过硬技术,迈斯卡德专注于为半导体产业以及光电产业提供测试解决方案支持。
迈斯卡德为OLED等显示面板(Flat Panel Display Test)和半导体测试(Semiconductor Test)提供测试设备支持。在面板测试,MicroLED E/L测试,Wafer Probing晶圆测试和Final Test成品测试中有较强的技术能力,能够为企业定制解决方案。
公司主要产品有:各式探针卡(Probe Card),高阶PCB载板,各类弹性薄膜探针(Film Contactor),Porbe Unit,MicroLED E/L测试设备等...
产品介绍/ Product
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Micro LED 光学/电学测试设备
迈斯卡德拥有MicroLED一站式测试解决方案,Micro LED E/L测试设备可以同时对单个的Die进行电学/光学测试,同时可支持定制,进行多点同时测试,能够在几小时之内测完一片百万级MicroLED wafer, 本方案目前全球少有,关键技术为超高精度的测试底座以及特殊的测试算法, 设备的测试探针最低可达3um,充分满足MicroLED的测试要求。 -
Nand Flash 300mm 用 MEMS探针卡
此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash 300mm 测试 -
移动DRAM用 MEMS探针卡
此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash测试 -
DDI/LDI 探针卡
本探针卡适用于LCD Drive IC,以及Display Drive IC test -
WAT(晶圆接受测试)探针卡
用于晶圆接受测试,WAT(wafer acceptance test),low leakage test. -
非储存类芯片悬臂式探针卡Non Memory Cantilever Porbe Card
用于非储存类芯片测试,悬臂式探针卡需结合设备使用,耐用,质量高,可靠性强。 -
MicroLED测试用3um针头薄膜探针
此探针针头最细可达3um,可适用于MicroLED的测试,能够有效精确的接触到待测物 -
IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor
此薄膜探针可用于Micro LED/OLED/AMOLED等平面显示器测试,也可以用于IC 晶圆测试,出厂测试,最大特点是可自动更换探针,省去人工操作的繁琐过程,提升工作效率。 -
IC测试FPD测试用J形薄膜探针
薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。
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