MEMS探针卡|Probe Card|集成电路及光电测试解决方案    测试晶圆    6 inch Dummy Wafer 6寸测试晶圆假片 6 inch Test wafer
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6 inch Dummy Wafer 6寸测试晶圆假片 6 inch Test wafer

迈斯卡德供应6 inch Dummy Wafer半导体假片,满足不同研发实验需求。

Dummy Wafer也被称为Test Wafer,中文名称为测试片/假片,在实际生产之前,需要对整个生产线中的设备和其他生产条件作出评估和测试,提高稳定性,会预先使用Dummy Wafer假片来进行测试,与Prime Wafer(正片)有区别。

Dummy Wafer在实验检查、评估传输以及加工形状等条件中都会被使用到,因此Dummy Wafer假片被广泛应用到半导体生产制造的流程中,其厚度、镀膜厚度,Pinball指标,光屈率,耐压性等指标都很重要。


迈斯卡德拥有独特渠道,能够为广大高校、实验室以及厂商长期供应质量稳定,价格公道的测试片。

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【产品名称】:6 inch Dummy Wafer 6寸测试晶圆假片 6 inch Test wafer

【尺寸】:6 inch

【生长方式】:CZ

【级别】Dummy(假片,测试片)

【直径】:160mm±0.2mm

【厚度】:625±25um

【电阻】:N/S

【Flat/Notch】Orientatiaon Flat or V-notch

【Orientation】:110

【类型/掺杂】:N/S 


【特点】:无任何划伤,一面抛光


【应用领域】:测试&研发&实验





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