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LowleakageProbeCard低漏电探针卡

WAT(晶圆接受测试)探针卡

用于晶圆接受测试,WAT(wafer acceptance test),low leakage test.

【产品名称】:WAT(晶圆接受性测试)探针卡

【类型】:垂直式探针卡(vertical probe card)

【共面度】<8um

【准度】:±4um

【针尖形状】:圆形

【接触电压】<4Ω

【漏电电流】:10V F

【针尖长度】:250±20um

【工作温度】:-40°C~150°C

【寿命】:超过100万次

【最大电流】:500mA

【Min, pad Pitch (Both side Fan-out) 】: 30um/ Single side: 60um   

【Min, pad Pitch (Both side Fan-out)】: 60um ( Coaxial needles) 

【 Min, pad Pitch (Both side Fan-out)】: 120um ( Coaxial needles)


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