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3um薄膜探针卡

MicroLED测试用3um针头薄膜探针

此探针针头最细可达3um,可适用于MicroLED的测试,能够有效精确的接触到待测物

【产品名称】:IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor

【最大特点】:有自动更换探针的功能

【使用寿命】:超过20,000次

【针头大小】:最小3um

【更换频率】:超过2周

【测试良率】:99%(2nd Test Result by Samsung)

【短路影响】:仅薄膜探针损坏(不损害被测物)

【排列方式】:可依据客户需求定制

【产品特点】:

  •     本探针卡使用先进薄膜工艺制造,针头细且柔软,有弹性,能够准备接触到被测物(DUT)同时不影响产品表面,较少或几乎没有划痕。

  • “J”型设计使得探针能够自带减压属性,更好适应检测环境。

  •     使用寿命高,能够制作较细小的间距,

  • 能在测试过程中产生较高的良率,适合大量产出的作业


【产品图片】:

3微米MicroLED探针3um-Tip-Diameter-Probing-Pictures-for-MicroLED



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