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3排列薄膜探针

IC测试FPD测用3排列薄膜探针接触器

薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。

【产品名称】:IC测试FPD测试用3排列薄膜探针接触器

【使用寿命】:超过20,000次

【PIN间距】:最小40um

【更换频率】:超过2周

【测试良率】:99%(2nd Test Result by Samsung)

【短路影响】:仅薄膜探针损坏(不损害被测物)

【产品特点】:

  •     本探针卡使用先进薄膜工艺制造,针头细且柔软,有弹性,能够准备接触到被测物(DUT)同时不影响产品表面,较少或几乎没有划痕。

  • “J”型设计使得探针能够自带减压属性,更好适应检测环境。

  •     使用寿命高,能够制作较细小的间距,

  • 能在测试过程中产生较高的良率,适合大量产出的作业



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