迈斯卡德拥有日本原厂供货优势,能够为广大厂商、院校、研究所提供测试片、假片、外延片、焊线测试晶圆、以及正片等,价格以及货源稳定。

假片/测试片

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迈斯卡德有能力为半导体以及光电行业提供高标准、搞要求的薄膜探针,能够应用于OLED以及FPD测试,BGA薄膜探针,探针卡中介板等,可根据客户需求定制FPCB厚度。

薄膜探针

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探针卡

迈斯卡德依托技术优势提供各类探针卡,包括储存类芯片和逻辑类芯片,提供定制化解决方案,真诚服务每一位客户。

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  • IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor

    此薄膜探针可用于Micro LED/OLED/AMOLED等平面显示器测试,也可以用于IC 晶圆测试,出厂测试,最大特点是可自动更换探针,省去人工操作的繁琐过程,提升工作效率。

    61 ¥ 0.00
  • MicroLED测试用3um针头薄膜探针

    此探针针头最细可达3um,可适用于MicroLED的测试,能够有效精确的接触到待测物

    49 ¥ 0.00
  • IC测试FPD测试用J形薄膜探针

    薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。

    72 ¥ 0.00
  • IC测试FPD测试用薄膜弧形探针

    薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。

    40 ¥ 0.00