6 个产品
  • IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor

    此薄膜探针可用于Micro LED/OLED/AMOLED等平面显示器测试,也可以用于IC 晶圆测试,出厂测试,最大特点是可自动更换探针,省去人工操作的繁琐过程,提升工作效率。

    244 ¥ 0.00
  • MicroLED测试用3um针头薄膜探针

    此探针针头最细可达3um,可适用于MicroLED的测试,能够有效精确的接触到待测物

    156 ¥ 0.00
  • IC测试FPD测试用J形薄膜探针

    薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。

    209 ¥ 0.00
  • IC测试FPD测试用薄膜弧形探针

    薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。

    100 ¥ 0.00