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探针卡-MEMS探针卡-薄膜探针卡-DRAM探针卡-NANDFLASH探针卡

ABOUT US

      联合韩国、日本、中国台湾团队,武汉迈斯卡德微电子科技有限公司于2017年7月在湖北省自贸区武汉片区未来科技城成立,结合上游供应链的良好合作关系以及自有的过硬技术,迈斯卡德专注于为半导体产业以及光电产业提供测试解决方案支持。

      迈斯卡德为OLED等显示面板(Flat Panel Display Test)和半导体测试(Semiconductor Test)提供测试设备支持。在面板测试,MicroLED E/L测试,Wafer Probing晶圆测试和Final Test成品测试中有较强的技术能力,能够为企业定制解决方案。

       公司主要产品有:各式探针卡(Probe Card),高阶PCB载板,各类弹性薄膜探针(Film Contactor),Porbe Unit,MicroLED E/L测试设备等...

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行业资讯/Industry information

  • 全球首发!柔宇科技发布了全球第一款可折叠手机

    当三星、华为的折叠手机方案还在试验阶段的时候,柔宇科技却捷足先登,为世人呈现了第一部可折叠手机。31日下午15时左右,柔宇科技召开全球新品发布会,现场推出其研究多年的FlexPai(柔派)折叠手机。

  • 一篇文章看懂目前4大主流封装技术

    包括半导体巨头厂商主推的CoWos, InFO, Wide-IO, HMC,  HBM及DDR等

产品介绍/ Product

  • Micro LED 光学/电学测试设备
    迈斯卡德拥有MicroLED一站式测试解决方案,Micro LED E/L测试设备可以同时对单个的Die进行电学/光学测试,同时可支持定制,进行多点同时测试,能够在几小时之内测完一片百万级MicroLED wafer, 本方案目前全球少有,关键技术为超高精度的测试底座以及特殊的测试算法, 设备的测试探针最低可达3um,充分满足MicroLED的测试要求。
  • Nand Flash 300mm 用 MEMS探针卡
    此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash 300mm 测试
  • 移动DRAM用 MEMS探针卡
    此薄膜探针可用于DRAM测试,Nand Flash测试
  • DDI/LDI 探针卡
    本探针卡适用于LCD Drive IC,以及Display Drive IC test
  • WAT(晶圆接受测试)探针卡
    用于晶圆接受测试,WAT(wafer acceptance test),low leakage test.
  • 非储存类芯片悬臂式探针卡Non Memory Cantilever Porbe Card
    用于非储存类芯片测试,悬臂式探针卡需结合设备使用,耐用,质量高,可靠性强。
  • IC测试FPD测试用可自动更换探针薄膜探针Auto Changeable Contactor
    此薄膜探针可用于Micro LED/OLED/AMOLED等平面显示器测试,也可以用于IC 晶圆测试,出厂测试,最大特点是可自动更换探针,省去人工操作的繁琐过程,提升工作效率。
  • MicroLED测试用3um针头薄膜探针
    此探针针头最细可达3um,可适用于MicroLED的测试,能够有效精确的接触到待测物
  • IC测试FPD测试用J形薄膜探针
    薄膜探针是利用MEMS技术将探针覆膜,将其制作微小化,轻量化,达到日益增长的高精度测试要求的产品。薄膜探针可用于晶圆检测(Chip Probing),出厂测试(Final Test),以及OLED, Micro LED, AMOLED 等平面显示器(Flat Panel Display FPD)点亮和老化测试。
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  • 晶圆测试

    为NAND Flash, DRAM, LSI等各类Wafer Probing提供各式定制探针卡

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    芯片
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    为各类成品IC的Final Test提供Load Board, Socket Board, Burn In Board, 高阶PCB设计。

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    电子信息
  • 面板测试

    为OLED、Micro LED等市场提供测试设备,并提供各类Contactor,Pallet等测试模组。

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    设计

版权所有:武汉迈斯卡德微电子科技有限公司             鄂ICP备:17026650号-1  

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